IoT, предсказательная аналитика, методы добычи данных в современной микроэлектронике

16 ноября 2017 г. в 14.00 состоялся открытый вебинар «IoT, предсказательная аналитика, методы добычи данных в современной микроэлектронике», в рамках которого специалисты StatSoft Russia продемонстрировали различные подходы и современные методы для решения практических задач в области качества, автоматизации и применения новейших технологий в микроэлектронике.

Вебинар будет интересен специалистам по управлению качеством на производстве микроэлектроники, технологам, научным сотрудникам институтов РАН и представителям профильных вузов.

Вебинар подготовлен под руководством директора StatSoft к.ф.-м.н. Боровикова В.П.

Программа вебинара

Блок 1. Цифровизация в отрасли микроэлектроники

• Описание проблем и задач
• Модель процессов, модель данных
• Потоки данных, потоки задач
• Современные IoT-технологии сбора данных
• Виртуальная метрология

Блок 2. Решение задач контроля и управления качеством в системе Statistica

• Обзор программы Statistica
• Визуализация и описательный анализ данных в программе Statistica
• Статистические инфопанели (dashboards)
• Классические методы анализа данных: построение зависимостей, сокращение размерности в программе Statistica
• Множественная регрессия
• Кластерный анализ
• Метод главных компонент
• Методы машинного обучения в программе Statistica
• CART модели
• Случайные леса
• Нейронные сети
• Корпоративные решения Statistica
• Вопросы-ответы

Регистрация завершена

Если вы хотите получить видеозапись вебинара, напишите, пожалуйста, на почту news@statsoft.ru.

Обращаем внимание, что на вебинаре дается только общий обзор методов и решений - подробная информация доступна на специализированных курсах StatSoft.

На нашем сайте в разделе StatSoft TV вы можете просмотреть видеозаписи предыдущих вебинаров, посвященных различным методам анализа данных, прогнозирования, методам Data Mining /Text Mining, а также инструментам для работы с Большими данными.